六氟化钨,WF6,Tungsten hexafluoride

CAS NO  7783-82-6
UN NO  UN2196 
EINECS NO 232-029-1
Molecular weight 297.83
Appearance Colorless gas 
Melting point 2.3 ℃
Boiling point 17.1 ℃
Density 13.0 kg/m
DOT Class 2.3 
Label Toxic gas
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Description

六氟化钨(WF₆)是一种在半导体制造中用于化学气相沉积工艺的必需电子气体。它能被氢气还原,从而在芯片孔和接触孔中沉积出高纯度的钨薄膜,是至关重要的互连金属材料。

产品应用

半导体化学气相沉积(CVD):作为核心原材料,在晶圆表面沉积钨薄膜,用于芯片内部的接触孔填充和互连线制作。尤其适用于3D NAND闪存(层数向232层、300层突破)和DRAM等先进存储芯片以及7nm以下的先进逻辑芯片制造。

制备高纯钨与涂层:作为气态原料制备高纯钨粉;或通过CVD技术在钢表面形成坚硬的碳化钨涂层,用于航空航天发动机部件、高温模具及核聚变装置保护层,以提高耐磨和耐高温性能。

原子层沉积(ALD):在5nm及以下的先进制程中,用于沉积更致密、均匀且厚度可控的钨薄膜。

气体纯度

Specification99.9999%
O2+Ar<0.001
N2<0.001
CO<0.003
CO2<0.008
Li<0.001
Na<0.001
Mg0.01
Al<0.002
K<0.001
Ca<0.001
Specification99.9999%
Cr<0.001
Mn<0.001
Fe<0.003
CO<0.003
Ni<0.004
Cu<0.001
Zn<0.001
Cd<0.001
Pb<0.001
Th<0.001
Specification99.9999%
U<0.001
P<0.010
Ti<0.001
As<0.001
Mo<0.001
Si<0.001
B<0.003
SiF4<0.003
SF6<0.027
HF0.185
CF4<0.010
Other metals<0.001

包装信息

Cylinder CapacityValveWeight
40LCGA 590 / QF-2100 kg
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