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| CAS NO | 7783-82-6 |
| UN NO | UN2196 |
| EINECS NO | 232-029-1 |
| Molecular weight | 297.83 |
| Appearance | Colorless gas |
| Melting point | 2.3 ℃ |
| Boiling point | 17.1 ℃ |
| Density | 13.0 kg/m |
| DOT Class | 2.3 |
| Label | Toxic gas |
六氟化钨(WF₆)是半导体制造中化学气相沉积工艺所用的关键电子气体。它可被氢气还原,进而在芯片孔洞与接触孔内沉积高纯度钨膜,是一种重要的互连金属材料。

半导体化学气相沉积(CVD):钨膜作为核心材料,被沉积在晶圆表面,用于填充芯片内的接触孔并制作互连结构。该工艺尤其适用于 3D NAND 闪存(其堆叠层数已实现 232 层、300 层的技术突破)、动态随机存取存储器(DRAM)等高端存储芯片,以及 7 纳米及以下制程的先进逻辑芯片。

高纯钨及涂层制备:以高纯钨粉作为气态原料进行制备;或采用化学气相沉积(CVD)技术在钢材表面制备硬质碳化钨涂层。该涂层可应用于航空发动机零部件、高温模具以及核聚变装置防护层,以此提升工件的耐磨性与耐高温性能。

原子层沉积(ALD):在 5 纳米及以下制程的先进制造工艺中,该技术用于沉积致密度更高、均匀性更好且厚度可精准调控的钨薄膜。
| Specification | 99.9999% |
| O2+Ar | <0.001 ppbw |
| N2 | <0.001 ppbw |
| CO | <0.003 ppbw |
| CO2 | <0.008 ppbw |
| Li | <0.001 ppbw |
| Na | <0.001 ppbw |
| Mg | 0.01 ppbw |
| Al | <0.002 ppbw |
| K | <0.001 ppbw |
| Ca | <0.001 ppbw |
| Specification | 99.9999% |
| Cr | <0.001 ppbw |
| Mn | <0.001 ppbw |
| Fe | <0.003 ppbw |
| CO | <0.003 ppbw |
| Ni | <0.004 ppbw |
| Cu | <0.001 ppbw |
| Zn | <0.001 ppbw |
| Cd | <0.001 ppbw |
| Pb | <0.001 ppbw |
| Th | <0.001 ppbw |
| Specification | 99.9999% |
| U | <0.001 ppbw |
| P | <0.010 ppbw |
| Ti | <0.001 ppbw |
| As | <0.001 ppbw |
| Mo | <0.001 ppbw |
| Si | <0.001 ppbw |
| B | <0.003 ppbw |
| SiF4 | <0.003 ppbw |
| SF6 | <0.027 ppbw |
| HF | 0.185 ppbw |
| CF4 | <0.010 ppbw |
| Other metals | <0.001 ppbw |
| Cylinder Capacity | Valve | Weight |
|---|---|---|
| 40L | CGA 590 / QF-2 | 100 kgs |






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