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Monday to Friday: 9AM - 6PM
| CAS NO | 7783-82-6 |
| UN NO | UN2196 |
| EINECS NO | 232-029-1 |
| Molecular weight | 297.83 |
| Appearance | Colorless gas |
| Melting point | 2.3 ℃ |
| Boiling point | 17.1 ℃ |
| Density | 13.0 kg/m |
| DOT Class | 2.3 |
| Label | Toxic gas |
六氟化钨(WF₆)是一种在半导体制造中用于化学气相沉积工艺的必需电子气体。它能被氢气还原,从而在芯片孔和接触孔中沉积出高纯度的钨薄膜,是至关重要的互连金属材料。

半导体化学气相沉积(CVD):作为核心原材料,在晶圆表面沉积钨薄膜,用于芯片内部的接触孔填充和互连线制作。尤其适用于3D NAND闪存(层数向232层、300层突破)和DRAM等先进存储芯片以及7nm以下的先进逻辑芯片制造。

制备高纯钨与涂层:作为气态原料制备高纯钨粉;或通过CVD技术在钢表面形成坚硬的碳化钨涂层,用于航空航天发动机部件、高温模具及核聚变装置保护层,以提高耐磨和耐高温性能。

原子层沉积(ALD):在5nm及以下的先进制程中,用于沉积更致密、均匀且厚度可控的钨薄膜。
| Specification | 99.9999% |
| O2+Ar | <0.001 |
| N2 | <0.001 |
| CO | <0.003 |
| CO2 | <0.008 |
| Li | <0.001 |
| Na | <0.001 |
| Mg | 0.01 |
| Al | <0.002 |
| K | <0.001 |
| Ca | <0.001 |
| Specification | 99.9999% |
| Cr | <0.001 |
| Mn | <0.001 |
| Fe | <0.003 |
| CO | <0.003 |
| Ni | <0.004 |
| Cu | <0.001 |
| Zn | <0.001 |
| Cd | <0.001 |
| Pb | <0.001 |
| Th | <0.001 |
| Specification | 99.9999% |
| U | <0.001 |
| P | <0.010 |
| Ti | <0.001 |
| As | <0.001 |
| Mo | <0.001 |
| Si | <0.001 |
| B | <0.003 |
| SiF4 | <0.003 |
| SF6 | <0.027 |
| HF | 0.185 |
| CF4 | <0.010 |
| Other metals | <0.001 |
| Cylinder Capacity | Valve | Weight |
|---|---|---|
| 40L | CGA 590 / QF-2 | 100 kg |






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