六氟化钨,WF6

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CAS NO  7783-82-6
UN NO  UN2196
EINECS NO 232-029-1
Molecular weight 297.83
Appearance Colorless gas
Melting point 2.3 ℃
Boiling point 17.1 ℃
Density 13.0 kg/m
DOT Class 2.3
Label Toxic gas
Category:

六氟化钨(WF₆)是半导体制造中化学气相沉积工艺所用的关键电子气体。它可被氢气还原,进而在芯片孔洞与接触孔内沉积高纯度钨膜,是一种重要的互连金属材料。

产品应用

半导体化学气相沉积(CVD):钨膜作为核心材料,被沉积在晶圆表面,用于填充芯片内的接触孔并制作互连结构。该工艺尤其适用于 3D NAND 闪存(其堆叠层数已实现 232 层、300 层的技术突破)、动态随机存取存储器(DRAM)等高端存储芯片,以及 7 纳米及以下制程的先进逻辑芯片。

高纯钨及涂层制备:以高纯钨粉作为气态原料进行制备;或采用化学气相沉积(CVD)技术在钢材表面制备硬质碳化钨涂层。该涂层可应用于航空发动机零部件、高温模具以及核聚变装置防护层,以此提升工件的耐磨性与耐高温性能。

原子层沉积(ALD):在 5 纳米及以下制程的先进制造工艺中,该技术用于沉积致密度更高、均匀性更好且厚度可精准调控的钨薄膜。

气体纯度

Specification99.9999%
O2+Ar<0.001 ppbw
N2<0.001 ppbw
CO<0.003 ppbw
CO2<0.008 ppbw
Li<0.001 ppbw
Na<0.001 ppbw
Mg0.01 ppbw
Al<0.002 ppbw
K<0.001 ppbw
Ca<0.001 ppbw
Specification99.9999%
Cr<0.001 ppbw
Mn<0.001 ppbw
Fe<0.003 ppbw
CO<0.003 ppbw
Ni<0.004 ppbw
Cu<0.001 ppbw
Zn<0.001 ppbw
Cd<0.001 ppbw
Pb<0.001 ppbw
Th<0.001 ppbw
Specification99.9999%
U<0.001 ppbw
P<0.010 ppbw
Ti<0.001 ppbw
As<0.001 ppbw
Mo<0.001 ppbw
Si<0.001 ppbw
B<0.003 ppbw
SiF4<0.003 ppbw
SF6<0.027 ppbw
HF0.185 ppbw
CF4<0.010 ppbw
Other metals<0.001 ppbw

包装信息

Cylinder CapacityValveWeight
40LCGA 590 / QF-2100 kgs
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